The Research of Structural Models of Fatigue Damage of Mixture Films
Defense Technical Information Center
Slide Academic Repository
Defense Technical Information Center
Slide Academic Repository
Автор: Defense Technical Information Center
Дереккөз: Internet Archive Open Library
Бұл басылым жоғары білім берудің ресми библиографиялық тізіліміне енгізілген. Сандық көшірме цифрландыру кезеңінде немесе ЖОО Ақпараттық-ресурстық орталықтарында (АРО) қолжетімді.
This report results from a contract tasking Physical-Technical Institute, Scientific as follows: The contractor will develop mathematical models connecting an electric resistance change of semiconductor mixture films with the number of loading cycles. Research the damage mechanisms that are dictated
Иә. «The Research of Structural Models of Fatigue Damage of Mixture Films» (Defense Technical Information Center) толық библиографиялық мәліметтерге ие және жоғары оқу орындарында курстық, дипломдық жұмыстарда ресми дереккөз ретінде пайдалануға жарамды.
Осы парақшадағы «Файлды ашу / PDF жүктеу» түймесін басыңыз. Құжатты тіркелусіз онлайн оқуға немесе құрылғыңызға жүктеп алуға болады.
Кітап жоғары оқу орындарының студенттеріне, магистранттарына («Информатика» саласы бойынша) және оқытушыларына арналған.
Әзірше пікір жоқ — бірінші болыңыз.
Қабылдау емтихандары, шәкіртақылар, студенттік қалалар мен мамандықтар туралы толық мәліметтер.